非破壊検査とは、検査対象の性能を前提として、対象の使用に害を与えたり影響を与えたりすることなく、音響、光学、磁気、電気の特性を利用して、対象内の欠陥や不均質性の存在を検出することです。欠陥のサイズ、欠陥の位置、情報の数の性質などを検査対象に提供し、検査対象の技術的状態 (たとえば、適格または不適格、残余寿命など) を決定します。など）一般用語のすべての技術的手段。
一般的に使用される非破壊検査方法: 超音波検査 (UT)、磁粒子検査 (MT)、液体浸透検査 (PT)、および X 線検査 (RT)。
超音波検査
UT (超音波検査) は、業界における非破壊検査法の 1 つです。欠陥に遭遇した対象物に超音波を照射すると、音波の一部が反射され、送信機と受信機で反射波を分析することができ、非常に正確な欠陥の測定が可能になります。また、内部欠陥の位置とサイズを示し、材料の厚さを決定することができます。
超音波検査の利点:
１、例えば、有効探知深さ１メートル以上までの鋼においては貫通能力が大きい。
2、クラック、中間層などの平面タイプの欠陥の場合、高感度で検出し、欠陥の深さと相対的なサイズを決定できます。
3、軽量の装置、安全な操作、簡単に自動検査を実現します。
短所:
ワークの複雑な形状を検査するのは容易ではなく、検査面にはある程度の平滑性が必要であり、十分な音響結合を確保するにはプローブと検査面の間の隙間を埋めるためにカップリング剤が必要です。
磁粉検査
まずは磁粉検査の原理を理解しましょう。強磁性材料やワークの着磁後、不連続部の存在により、ワークの表面や表面付近の磁力線が局所的に歪み、漏れ磁界が発生し、表面に塗布された磁性粉が吸着します。適切な光の下で視覚的に見える磁気トレースを形成し、不連続部の位置、形状、サイズを示します。
磁粉検査の適用性と制限は次のとおりです。
1. 磁粒子探傷は、強磁性体の表面や、視覚的に確認するのが難しい非常に小さなサイズや非常に狭いギャップを持つ表面付近の不連続性の検出に適しています。
2、磁粉検査はさまざまなケースの部品検出が可能ですが、検出される部品の種類もさまざまです。
3、クラック、インクルージョン、ヘアライン、ホワイトスポット、フォールディング、低温偏析、ルースおよびその他の欠陥を見つけることができます。
4、磁性粒子検査は、オーステナイト系ステンレス鋼材料およびオーステナイト系ステンレス鋼溶接電極で溶接された溶接部を検出できず、銅、アルミニウム、マグネシウム、チタンおよびその他の非磁性材料は検出できません。表面の浅い傷や深い穴の埋め込み、ワーク表面の角度が20°未満の場合、剥離や折れが見つかりにくくなります。
液体侵入検知
液体浸透検出の基本原理は、部品の表面が蛍光染料または着色染料でコーティングされており、毛細管の作用下で一定時間内に浸透液体が表面開口部の欠陥に浸透することができます。部品表面の余分な浸透液を除去した後、部品表面に現像液を塗布します。
同様に、毛細管の作用により、現像液は透過液の保持に欠陥を引き寄せ、特定の光源（紫外線または白色光）下で現像液が浸透して現像液に戻り、浸透液の痕跡の欠陥が表示されます。黄緑色の蛍光色または明るい赤色）を使用して、形態の欠陥や状態の分布を検出します。
侵入検出の利点は次のとおりです。
1、さまざまな物質を検出できます。
2、高感度を持っています。
3、ディスプレイは直感的で、操作が簡単で、検出コストが低いです。
侵入テストの欠点は次のとおりです。
1、ワークピースや粗い表面のワークピースで作られた多孔質のルースマテリアルの検査には適していません。
2. 貫入試験では欠陥の表面分布しか検出できず、実際の欠陥の深さを測定することが困難であり、したがって欠陥を定量的に評価することが困難です。検出結果はオペレーターによっても影響されます。
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X線検査
最後の放射線検出は、照射された物体を通過するX線には損失があり、物質の厚さによって吸収率が異なり、放射線の強度が異なるため、ネガは照射された物体の反対側に配置されます。が異なり、対応するグラフィックを生成するため、フィルム評価者は画像に基づいて、オブジェクト内に欠陥があるかどうか、および欠陥の性質を判断できます。
光線検出の適用性と制限:
1、体積欠陥の検出感度が高く、欠陥の特徴付けが容易です。
2、レイネガは保持しやすく、トレーサビリティがあります。
3、欠陥の形状と種類の可視化。
4、欠点は、欠陥の埋没深さを特定できないこと、検出できる厚さが限られていること、ネガを特別に洗浄する必要があること、人体に一定の害があること、コストが高いことです。
つまり、超音波や X 線探傷は内部欠陥の検出に適しています。超音波が5mmを超える場合、および通常の部品の形状、X線では欠陥の埋没深さを特定できない場合、放射線を照射します。磁粒子および貫通探傷は、部品表面の欠陥の検出に適しています。このうち、磁粉探傷は磁性材料の検出に限定され、貫通探傷は表面の開放欠陥の検出に限定されます。
投稿日時: 2023 年 8 月 24 日
